Chip Design Contest(CDC) A Metastable-Point-Shifting I/O Sense Amplifier for VEQ-Precharged Global I/O Readout in High-Speed DRAM 논문번호 : 202603084 주저자 : 장호연 소속 : 연세대학교 지도교수 : 정성욱 전시담당자 : 장호연(jhy001229@yonsei.ac.kr) 포스터 :