Chip Design Contest(CDC)

Memory Test System IC and its Built-In Self-Test Architecture

• 논문번호 : 202603058
• 주저자 : 박종호
• 소속 : 연세대학교
• 지도교수 : 강성호
• 전시담당자 : 박종호(jongho.park@yonsei.ac.kr)