Chip Design Contest(CDC) Low Area Quadruple Node Upset-Tolerant and Self-Recoverable Latch Design with Recovery Signal for Aerospace Applications 논문번호 : 202603020 주저자 : 바야르툴가 소속 : 인천대학교 지도교수 : 나태희 전시담당자 : 바야르툴가(tulga5111@gmail.com) 포스터 :