Chip Design Contest(CDC)

A Sparsity-Aware Analog-Digital Hybrid eDRAM CIM by Effective Row Activation

• 논문번호 : 202503020
• 주저자 : Seungbin Kim
• 소속 : UNIST
• 지도교수 : 이규호
• 전시담당자 : Seungbin Kim(seungbin.leon.kim@unist.ac.kr)