Chip Design Contest(CDC)

초고속 메모리 테스트를 위한 패턴 생성기 ASIC

• 논문번호 : 202403032
• 주저자 : Junghwan Kim
• 소속 : Kyungpook National University
• 지도교수 : 문병인
• 전시담당자 : Sunghun Jung(keaz6060@knu.ac.kr)